库尔斯开发超大型低翘曲键合技术,瞄准Rubin Ultra四GPU单一中介层
以高刚性盖板固定形状、以热离合器缩短时间……180×70毫米级封装的加热与冷却时间由1分钟以上压缩至10秒以内;库尔斯称“台积电新CoWoS-L结构或抵触其在先专利”

半导体键合技术企业库尔斯(Kools,주식회사 쿨스)9月10日表示,已完成用于实现英伟达Rubin Ultra四GPU单一中介层的超大型低翘曲键合技术开发。
该技术在键合前先结合高刚性盖板,将超大型封装平坦约束,并通过热离合器仅对键合界面进行快速加热与冷却。库尔斯称,采用该技术后,180×70毫米级超大型封装的加热与冷却时间缩短至10秒以内,键合后的翘曲被抑制在0.1毫米以下。
Rubin Ultra最初的构想,是把4颗GPU与16颗HBM4E集成在一个超大型CoWoS-L封装内。但此后不断有报道称,由于制造实现与封装良率问题,四芯片封装被缩减为双芯片结构。业界认为,把大尺寸中介层键合到ABF基板时产生的翘曲是主要原因之一。封装尺寸越大,中介层与基板之间的热膨胀差异累积越多,仅靠现有的炉内回流焊难以维持平坦的键合面。
库尔斯的第一个解法是高刚性盖板。与键合完成后再贴装盖板的既有方式不同,该技术在键合前先结合高刚性盖板,在整个封装被平坦约束的状态下对中介层与基板加压键合,并将加压保持到焊料完全凝固为止。这不是对已经翘曲的封装做事后矫正,而是从一开始就把封装按住、不让其变形后再键合。
不过,高刚性盖板厚、热容量大,若使用普通热压键合(TCB),仅加热与冷却就需要1分钟以上,属于抑制了翘曲却牺牲量产效率的结构。第二项核心技术热离合器解决了这一瓶颈。加热时切断热路径,防止键合头的热量流向冷却部,使键合界面快速升温;键合结束后立即把热路径切换至冷却侧,排出盖板与键合部的热量。冷却过程中仍保持加压,直至焊料凝固区间为止都把封装维持在平坦状态。
库尔斯认为,台积电近期公开的超大型CoWoS-L键合结构,很可能抵触公司此前提交申请的专利。其判断依据是,键合前结合高刚性盖板、对大面积封装进行平坦约束、加压保持至焊料凝固这一核心结构与工艺顺序存在直接重叠。
库尔斯代表理事Cho Jin-hyun(조진현)表示:“台积电似乎已采用的高刚性盖板与热压键合的结合方式,与库尔斯此前开发并申请专利的方向在核心结构上重叠”,“库尔斯在此基础上加入热离合器,取消了炉内回流焊,同时解决了超大型封装的翘曲与生产效率问题。”
Cho Jin-hyun用扑克比喻四GPU单一中介层与两个双GPU封装之间的差别,称“四GPU单一中介层是四条,两个双GPU封装是两对”,“就像同样是四张牌但牌面价值不同一样,即使GPU数量相同,系统集成程度不同,性能所处的层级也不同。”
库尔斯计划向台积电提出技术构成确认、许可协商以及超大型低翘曲键合设备的共同评估。同时,公司将以277件知识产权组合为基础推进180×70毫米级超大型低翘曲键合设备的商业化,并把应用对象扩大到三星电子、SK海力士及全球封测厂的下一代AI封装。
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